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使用USB微型頻譜分析儀和TNP6Gx近場探頭進(jìn)行EMC預(yù)測試
來源: 作者:小編 發(fā)布時(shí)間: 2024-01-18 15:55:58 瀏覽: 遞增失?。?/p>
使用USB微型頻譜分析儀和TNP6Gx近場探頭進(jìn)行EMC預(yù)測試
導(dǎo)電EMC測試l3 m或10m現(xiàn)場測試參考屏蔽箱級l測試l近場測試與TNP6Gxl3 m或10m現(xiàn)場測試進(jìn)行最終檢查EMCl的預(yù)測試大多數(shù)大量產(chǎn)品都需要進(jìn)行批準(zhǔn)測試。一個(gè)困難的領(lǐng)域是EMCl認(rèn)證測試在一個(gè)有認(rèn)證的測試實(shí)驗(yàn)室是廣泛的。批準(zhǔn)測試的失敗會導(dǎo)致重復(fù)測試的額外成本。l：防止因未通過批準(zhǔn)測試而產(chǎn)生的額外費(fèi)用。預(yù)試是重要的，以確保您的產(chǎn)品可以通過測試之前提交給測試實(shí)驗(yàn)室。這是處理批準(zhǔn)測試的一種經(jīng)濟(jì)有效的方法。
EMCl的預(yù)測試將您的產(chǎn)品送到測試實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行初步測試仍然很昂貴，而且有些公司沒有帶有腔室或射頻設(shè)備的射頻測試實(shí)驗(yàn)室；購買這些設(shè)備需要大量的初始投資。lTSA USB迷你頻譜分析儀和TNP6Gx為您的預(yù)測試需求提供了一個(gè)低成本的解決方案。
EMC測試標(biāo)準(zhǔn)概述l最流行的標(biāo)準(zhǔn)是美國的面心立方和歐洲的CE。標(biāo)準(zhǔn)因國家而異；例如，加拿大有集成電路標(biāo)準(zhǔn)。l面心立方第15部分與EMC項(xiàng)目有關(guān)。正在測試的特定子部件取決于您的產(chǎn)品。l對于CE，EMC項(xiàng)目可以在EN55011中找到。l有些產(chǎn)品有特殊要求，您需要根據(jù)您的產(chǎn)品進(jìn)行檢查
EMC測試標(biāo)準(zhǔn)概述l正常測試頻帶將為：1)9 KHz~30MHz2)30MHz至1000MHz3)1 GHz至6 GHz或12 GHzl請檢查具體標(biāo)準(zhǔn)，以獲得詳細(xì)和最新的頻帶及其通過水平要求。l
導(dǎo)電EMC測試l直接將被測試產(chǎn)品（UUT）連接到TSA USB迷你頻譜分析儀的輸入SMA連接器。l嘗試尋找一個(gè)參考頻率點(diǎn)來測量，如LO信號及其諧波晶體頻率和諧波。l如果信號在參考頻率點(diǎn)較大，試著找出原因，然后找出解決問題的方法。l我們的USB迷你頻譜分析儀型號TSA5G1可以測量從1MHz到5350MHz，而型號TSA12G5可以測量從4900MH到13500MHz。測量到的信號電平可以低至-90dBm。
EMC寬帶天線l當(dāng)您想設(shè)置3m現(xiàn)場測試時(shí)，您應(yīng)該有寬帶天線。l標(biāo)準(zhǔn)的EMC寬帶天線將為：1 GHz以下的lLog周期天線。l喇叭天線以上的1 GHzlTSA產(chǎn)品可以直接連接到天線，以消除電纜丟失的EMC寬帶天線l如果你想設(shè)置一個(gè)3米的現(xiàn)場測試，你將需要一個(gè)寬帶天線。l標(biāo)準(zhǔn)EMC寬帶天線為：lLog周期天線以下1 GHzl喇叭天線以上1 GHzlTSA頻譜分析儀可以直接連接天線以消除電纜損耗。
3米和10米現(xiàn)場測試l通常需要一個(gè)射頻室進(jìn)行現(xiàn)場測試。如果測試發(fā)生在一個(gè)開放的區(qū)域，將會有大量的干擾信號。您可能無法區(qū)分來自UUT或外部干擾的信號。l要在沒有射頻室時(shí)做到這一點(diǎn)，您需要在屏蔽盒中設(shè)置測試。試著找出哪個(gè)頻率的發(fā)射。然后，只在3米或10米的露天區(qū)域測試這幾個(gè)點(diǎn)。這樣，你就可以避免空氣對外部信號的干擾。需要獲得在屏蔽盒內(nèi)操作的參考級別。l例如：如果您需要測試面心立方15.427，要求是比1 GHz限制54dBuv/m。l使用喇叭天線連接2 GHz或4 GHz處的TSA5G35 USB頻譜分析儀，使用鞭子天線連接到3m處的射頻信號發(fā)生器，以模擬UUT。要微調(diào)射頻信號發(fā)生器的輸出電平，請確保接收到的信號電平為54dBuv/m，以滿足面心立方的要求。射頻信號發(fā)生器的結(jié)果輸出電平是參考電平=Lref（它可能是-40dBm），它將代表UUT的最大發(fā)射。如果UUT信號電平大于Lref，則該產(chǎn)品將失效為面心立方。這些電路需要修改以減少排放。
參考水平的3米和10米現(xiàn)場試驗(yàn)
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